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    Type-C端口水汽檢測(cè)(LPD)技術(shù)介紹

    發(fā)布時(shí)間:2025-03-04 責(zé)任編輯:lina

    【導(dǎo)讀】在現(xiàn)代電子設(shè)備中,USB Type-C 接口因其具有高帶寬、高功率特性且支持反向插入,成為應(yīng)用最廣泛的標(biāo)準(zhǔn)。然而,隨著設(shè)備日益趨向小型化、充電功率和功能多樣化,接口可靠性也面臨著更嚴(yán)峻的挑戰(zhàn),尤其是在日常生活中 Type-C 端口經(jīng)常會(huì)暴露在潮濕或高溫環(huán)境中,水汽或生活用水滲入接口可能引發(fā)一系列問(wèn)題,從充電不穩(wěn)定到設(shè)備短路,甚至導(dǎo)致設(shè)備損壞。如何有效檢測(cè)和防止水汽侵入成為提升 USB Type-C 接口可靠性的重要課題。本文將探討針對(duì) USB Type-C 接口的水汽檢測(cè)技術(shù),分析其工作原理、實(shí)現(xiàn)方式及艾為的對(duì)應(yīng)產(chǎn)品。


    在現(xiàn)代電子設(shè)備中,USB Type-C 接口因其具有高帶寬、高功率特性且支持反向插入,成為應(yīng)用最廣泛的標(biāo)準(zhǔn)。然而,隨著設(shè)備日益趨向小型化、充電功率和功能多樣化,接口可靠性也面臨著更嚴(yán)峻的挑戰(zhàn),尤其是在日常生活中 Type-C 端口經(jīng)常會(huì)暴露在潮濕或高溫環(huán)境中,水汽或生活用水滲入接口可能引發(fā)一系列問(wèn)題,從充電不穩(wěn)定到設(shè)備短路,甚至導(dǎo)致設(shè)備損壞。如何有效檢測(cè)和防止水汽侵入成為提升 USB Type-C 接口可靠性的重要課題。本文將探討針對(duì) USB Type-C 接口的水汽檢測(cè)技術(shù),分析其工作原理、實(shí)現(xiàn)方式及艾為的對(duì)應(yīng)產(chǎn)品。


    為了應(yīng)對(duì)這一挑戰(zhàn),USB Type-C 2.4協(xié)議引入了 LPD(Liquid Presence Detection)的概念,旨在通過(guò)對(duì)接口寄生的額外漏電路徑檢測(cè)和防護(hù)來(lái)確保用電設(shè)備的穩(wěn)定性和安全性,其一般有以下幾種實(shí)現(xiàn)思路:
    電壓/電流監(jiān)測(cè)
    在接口的電源引腳和地線之間,以及數(shù)據(jù)傳輸線之間, LPD 系統(tǒng)會(huì)持續(xù)監(jiān)測(cè)電壓和電流的變化。如果出現(xiàn)異常的電流流動(dòng)或電壓偏差,可能表明存在因水汽入侵產(chǎn)生的等效漏電路徑。

    阻抗、容抗分析
    除了電壓和電流的監(jiān)測(cè),LPD 技術(shù)還可以通過(guò)阻抗分析來(lái)判斷接口的電氣狀態(tài)。濕氣或水分滲透到接口的內(nèi)部可能導(dǎo)致某些電氣通路的阻抗、容抗變化,LPD 能夠通過(guò)精準(zhǔn)的阻抗測(cè)量來(lái)檢測(cè)這種變化。


    下圖為一個(gè)典型的水汽入侵等效示意電路:


    Type-C端口水汽檢測(cè)(LPD)技術(shù)介紹

    圖1  Type-C 端口水汽入侵等效示意圖


    其對(duì)應(yīng)的 VBUS 及 CC pin 波形如下所示:

    Type-C端口水汽檢測(cè)(LPD)技術(shù)介紹

    圖2  Type-C 端口水汽入侵實(shí)測(cè)波形圖


    據(jù)此波形分析并設(shè)計(jì)LPD機(jī)制


    1、當(dāng) CC 處于 toggle 狀態(tài)時(shí),CC pin 電平在0到 VDD 電壓不斷反轉(zhuǎn),如果 CC 通路存在水汽會(huì)導(dǎo)致微短路,這時(shí)候CC內(nèi)部電阻加上微短路電阻和 Vbus 上的電容形成 RC 低通濾波器,將過(guò)濾 CC 上升沿和下降沿的高頻分量,促使 CC 端的波形發(fā)生趨緩變化。
    2、在非電平主動(dòng)反轉(zhuǎn)過(guò)程中,如果電壓處于中間電位會(huì)觸發(fā) CC toggles 中斷。
    3、基于此,可以用 timer 來(lái)記錄間隔單位時(shí)間內(nèi)(比如2s)toggles 中斷是否到來(lái),若到來(lái)計(jì)數(shù)器加一,若沒(méi)有則清零。如果計(jì)數(shù)器加到50次,則認(rèn)為觸發(fā)水汽預(yù)警,這時(shí)將 CC 端設(shè)為純 SNK 端口,并上報(bào)水汽事件給 AP 側(cè)。

    4、AP 側(cè)可以重啟 CC 端口 DRP 功能。

    這也是艾為的第一代 PD PHY – AW35615CSR 所采用的 LPD 檢測(cè)方案,該芯片累計(jì)出貨近億顆,并且以其優(yōu)異的性能進(jìn)入MTK、展訊、ASR 等多家公司的官方參考設(shè)計(jì)方案。


    在此基礎(chǔ)之上,艾為不斷追求 LPD 檢測(cè)精度及靈敏度,并推出第二代 PD PHY 方案,內(nèi)部集成擁有專利保護(hù)的硬件水汽檢測(cè)電路,其原理將結(jié)合下圖解釋:


    Type-C端口水汽檢測(cè)(LPD)技術(shù)介紹

    圖3  CC PIN Toggle 示意圖


    Type-C端口水汽檢測(cè)(LPD)技術(shù)介紹

    圖4  水汽入侵后 CC pin 波形分析模型圖


    可以看到,在水汽入侵之后,由于寄生低通濾波器的存在,CC 端口電平的上升沿將變得異常緩慢,通過(guò)設(shè)置目標(biāo) CC VOL 電平及到達(dá)目標(biāo)電平所需時(shí)間等參數(shù),即可實(shí)現(xiàn)對(duì)水汽入侵檢測(cè)靈敏度的靈活控制。基于此技術(shù)的艾為第二代 PD PHY 產(chǎn)品 AW35615PFCR 典型應(yīng)用圖如下所示:

    Type-C端口水汽檢測(cè)(LPD)技術(shù)介紹

    圖5  AW35615PFCR 典型應(yīng)用框圖


    其主要參數(shù)為:
    • 支持 USB PD 3.1  28V EPR
    • 更優(yōu)秀的眼圖
    • CC 引腳最高耐壓值:32V
    • 自家通過(guò) CTS 認(rèn)證的完整 PD 協(xié)議棧實(shí)現(xiàn)
    • 取消 VCONN 引腳,layout 更方便 
    • 支持1.2V、1.8V IIC通信
    • 支持死電池模式,未通電時(shí)作為 SNK
    • 內(nèi)置專利保護(hù)的 LPD 硬件算法
    • 支持 VBUS 檢測(cè)與放電控制功能,可以避免 VBUS 電腐蝕老化損耗
    • 支持 Wake 低功耗檢測(cè)模式

    相信通過(guò)上文對(duì) LPD 技術(shù)的詳細(xì)闡述,大家對(duì)其工作原理、實(shí)現(xiàn)方式以及在保障設(shè)備穩(wěn)定性方面的重要作用,都有了較為深刻的認(rèn)識(shí)。艾為憑借在相關(guān)領(lǐng)域的深厚技術(shù)積累,精心準(zhǔn)備了一系列豐富且專業(yè)的端口保護(hù)及協(xié)議類解決方案,能夠充分滿足不同應(yīng)用場(chǎng)景下的多樣化適配需求。

    文章來(lái)源:艾為之家


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