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    影響電阻或電阻率測(cè)試的主要因素

    發(fā)布時(shí)間:2011-12-09

    中心議題:

    • 環(huán)境溫濕度對(duì)電阻或電阻率測(cè)試的影響
    • 測(cè)試電壓(電場(chǎng)強(qiáng)度)對(duì)電阻或電阻率測(cè)試的影響
    • 測(cè)試時(shí)間對(duì)電阻或電阻率測(cè)試的影響
    • 測(cè)試設(shè)備的泄漏對(duì)電阻或電阻率測(cè)試的影響
    • 外界干擾對(duì)電阻或電阻率測(cè)試的影響


    本文介紹影響電阻或電阻率測(cè)試的五大主要因素,包括:環(huán)境溫濕度、測(cè)試電壓(電場(chǎng)強(qiáng)度)、測(cè)試時(shí)間、測(cè)試設(shè)備的泄漏和外界的干擾。

    a.環(huán)境溫濕度

    一般材料的電阻值隨環(huán)境溫濕度的升高而減小。相對(duì)而言,表面電阻(率)對(duì)環(huán)境濕度比較敏感,而體電阻(率)則對(duì)溫度較為敏感。濕度增加,表面泄漏增大,體電導(dǎo)電流也會(huì)增加。溫度升高,載流子的運(yùn)動(dòng)速率加快,介質(zhì)材料的吸收電流和電導(dǎo)電流會(huì)相應(yīng)增加,據(jù)有關(guān)資料報(bào)道,一般介質(zhì)在70C時(shí)的電阻值僅有20C時(shí)的10%。因此,測(cè)量材料的電阻時(shí),必須指明試樣與環(huán)境達(dá)到平衡的溫濕度。

    b.測(cè)試電壓(電場(chǎng)強(qiáng)度)

    介質(zhì)材料的電阻(率) 值一般不能在很寬的電壓范圍內(nèi)保持不變,即歐姆定律對(duì)此并不適用。常溫條件下,在較低的電壓范圍內(nèi),電導(dǎo)電流隨外加電壓的增加而線性增加,材料的電阻值保持不變。超過(guò)一定電壓后,由于離子化運(yùn)動(dòng)加劇,電導(dǎo)電流的增加遠(yuǎn)比測(cè)試電壓增加的快,材料呈現(xiàn)的電阻值迅速降低。由此可見(jiàn),外加測(cè)試電壓越高,材料的電阻值越低,以致在不同電壓下測(cè)試得到的材料電阻值可能有較大的差別。

    值得注意的是,導(dǎo)致材料電阻值變化的決定因素是測(cè)試時(shí)的電場(chǎng)強(qiáng)度,而不是測(cè)試電壓。對(duì)相同的測(cè)試電壓,若測(cè)試電極之間的距離不同,對(duì)材料電阻率的測(cè)試結(jié)果也將不同,正負(fù)電極之間的距離越小,測(cè)試值也越小。

    c.測(cè)試時(shí)間

    用一定的直流電壓對(duì)被測(cè)材料加壓時(shí),被測(cè)材料上的電流不是瞬時(shí)達(dá)到穩(wěn)定值的,而是有一衰減過(guò)程。在加壓的同時(shí),流過(guò)較大的充電電流,接著是比較長(zhǎng)時(shí)間緩慢減小的吸收電流,最后達(dá)到比較平穩(wěn)的電導(dǎo)電流。被測(cè)電阻值越高,達(dá)到平衡的時(shí)間則越長(zhǎng)。因此,測(cè)量時(shí)為了正確讀取被測(cè)電阻值,應(yīng)在穩(wěn)定后讀取數(shù)值或取加壓 1分鐘后的讀數(shù)值。

    另外,高絕緣材料的電阻值還與其帶電的歷史有關(guān)。為準(zhǔn)確評(píng)價(jià)材料的靜電性能,在對(duì)材料進(jìn)行電阻(率)測(cè)試時(shí),應(yīng)首先對(duì)其進(jìn)行消電處理,并靜置一定的時(shí)間,靜置時(shí)間可取5分鐘,然后,再按測(cè)量程序測(cè)試。一般而言,對(duì)一種材料的測(cè)試,至少應(yīng)隨機(jī)抽取3~5個(gè)試樣進(jìn)行測(cè)試,以其平均值作為測(cè)試結(jié)果。

    d.測(cè)試設(shè)備的泄漏

    在測(cè)試中,線路中絕緣電阻不高的連線,往往會(huì)不適當(dāng)?shù)嘏c被測(cè)試樣、取樣電阻等并聯(lián),對(duì)測(cè)量結(jié)果可能帶來(lái)較大的影響。為此:

    為減小測(cè)量誤差,應(yīng)采用保護(hù)技術(shù),在漏電流大的線路上安裝保護(hù)導(dǎo)體,以基本消除雜散電流對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響;

    高電壓線由于表面電離,對(duì)地有一定泄漏,所以盡量采用高絕緣、大線徑的高壓導(dǎo)線作為高壓輸出線并盡量縮短連線,減少尖端,杜絕電暈放電;

    采用聚乙烯、聚四氟乙烯等絕緣材料制作測(cè)試臺(tái)和支撐體,以避免由于該類(lèi)原因?qū)е聹y(cè)試值偏低。

    e.外界干擾

    高絕緣材料加上直流電壓后,通過(guò)試樣的電流是很微小的,極易受到外界干擾的影響,造成較大的測(cè)試誤差。熱電勢(shì)、接觸電勢(shì)一般很小,可以忽略;電解電勢(shì)主要是潮濕試樣與不同金屬接觸產(chǎn)生的,大約只有20mV,況且在靜電測(cè)試中均要求相對(duì)濕度較低,在干燥環(huán)境中測(cè)試時(shí),可以消除電解電勢(shì)。因此,外界干擾主要是雜散電流的耦合或靜電感應(yīng)產(chǎn)生的電勢(shì)。在測(cè)試電流小于10-10A或測(cè)量電阻超過(guò)1011歐姆時(shí);被測(cè)試樣、測(cè)試電極和測(cè)試系統(tǒng)均應(yīng)采取嚴(yán)格的屏蔽措施,消除外界干擾帶來(lái)的影響。

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