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    第10講:SiC的加工工藝(2)柵極絕緣層

    發布時間:2024-12-02 責任編輯:lina

    【導讀】SiC可以通過與Si類似的熱氧化過程,在晶圓表面形成優質的SiO2絕緣膜。這在制造SiC器件方面具有非常大的優勢。在平面柵SiC MOSFET中,這種熱氧化形成的SiO2通常被用作柵極絕緣膜,并已實現產品化。然而,SiC的熱氧化與Si的熱氧化存在一些差異,在將熱氧化工藝應用于SiC器件時必須考慮到這一點。


    柵極氧化層可靠性是SiC器件應用的一個關注點。本節介紹SiC柵極絕緣層加工工藝,重點介紹其與Si的不同之處。

    SiC可以通過與Si類似的熱氧化過程,在晶圓表面形成優質的SiO2絕緣膜。這在制造SiC器件方面具有非常大的優勢。在平面柵SiC MOSFET中,這種熱氧化形成的SiO2通常被用作柵極絕緣膜,并已實現產品化。然而,SiC的熱氧化與Si的熱氧化存在一些差異,在將熱氧化工藝應用于SiC器件時必須考慮到這一點。

    首先,與Si相比,SiC的熱氧化速率低。因此,該過程需要很長時間,而且還需要高溫。在SiC的熱氧化中,考慮高溫工藝下裝置的負荷是不可缺少的。此外,SiC的熱氧化速率具有很大的各向異性,取決于晶體表面。熱氧化速率通常在(0001)Si面最慢,在(0001(—))C面最快。例如,在制作溝槽柵SiC MOSFET時,為了在與Si面與C面正交的面上形成柵極氧化膜,需要利用CVD氧化膜等對策。關于熱氧化的氣氛,可以使用水蒸氣和干氧氣,兩者比較,水蒸氣氣氛的氧化速率更大,與Si相同。由于氣氛氣體影響SiC/SiO2界面的電子、空穴陷阱的形成,因此需要注意氣氛氣體的選擇。另外,關于構成SiC的碳,在熱氧化中以CO或者CO2的形式從SiO2脫離。已知SiC熱氧化形成的SiO2除了在SiC/SiO2界面附近之外,碳殘留非常少。對于SiC,在適當條件下形成的熱氧化SiO2的絕緣擊穿場強與Si的熱氧化SiO2相比,得到了相同或更好的值,不存在與電氣絕緣性能相關的本質性問題。

    SiC與Si的熱氧化膜的最大不同之處在于,SiC在SiC/SiO2界面上形成了許多電子、空穴陷阱。SiC/SiO2界面上的陷阱會對器件性能產生負面影響,例如增加MOSFET導通時的電阻,導致電氣特性隨時間變化。因此,進行了許多降低界面陷阱密度的嘗試。其中,在NO、N2O等氮化氣體氣氛中,進行SiC/SiO2界面的退火處理是一種已經被廣泛使用的方法,能夠大幅改善MOSFET的SiC/SiO2界面電子的有效遷移率。進行該氮化退火處理時的溫度需要與熱氧化過程相同或更高的溫度,需要與高溫對應的退火處理裝置。電子和空穴陷阱的起源被認為是涉及碳殘留的復合缺陷,但仍有爭議。另外,許多機構正在進行進一步降低陷阱密度的研究和開發。

    關于SiC/SiO2界面陷阱對MOSFET的影響,對三菱電機制造的平面柵SiC MOSFET實施柵極電壓應力試驗(HTGB試驗),結果如圖1所示。測試溫度設為150℃,在柵極和源極之間持續施加20V或-20V時,觀察閾值電壓的變化。測試的所有MOSFET,無論施加柵極電壓的正、負,閾值電壓的變動量都很小,穩定性非常好。表1匯總了施加1000小時柵極電壓后導通電阻和閾值電壓的變化量。與閾值電壓一樣,導通電阻的變動量也很小,不成問題。


     表1:SiC MOSFET施加柵極電壓測試后導通電阻、閾值電壓變化量  近年來,將高頻交流電壓施加到SiC MOSFET的柵極時,閾值電壓等電特性的經時偏移引起了人們的關注。這是一種在時間上逐漸發生特性漂移的現象,與電壓掃描中常見的滯回特性不同,這是由于存在于SiC/SiO2界面處的陷阱捕獲、釋放電荷。在漂移量大的情況下,在實用中有可能產生問題,所以有時候應用側對長期可靠性表示擔憂。圖2表示對SiC MOSFET的柵極施加高頻AC偏壓時閾值電壓的經時變化。三菱電機的SiC MOSFET,閾值電壓的漂移量小、穩定性好,與其他公司產品(A公司)相比,有較大的差異。圖1(a):在高溫(150℃)、長時(1000hr)施加柵極電壓(HTGB試驗),SiC MOSFET柵極閾值電壓隨時間變化(柵極電壓為20V時)

     表1:SiC MOSFET施加柵極電壓測試后導通電阻、閾值電壓變化量  近年來,將高頻交流電壓施加到SiC MOSFET的柵極時,閾值電壓等電特性的經時偏移引起了人們的關注。這是一種在時間上逐漸發生特性漂移的現象,與電壓掃描中常見的滯回特性不同,這是由于存在于SiC/SiO2界面處的陷阱捕獲、釋放電荷。在漂移量大的情況下,在實用中有可能產生問題,所以有時候應用側對長期可靠性表示擔憂。圖2表示對SiC MOSFET的柵極施加高頻AC偏壓時閾值電壓的經時變化。三菱電機的SiC MOSFET,閾值電壓的漂移量小、穩定性好,與其他公司產品(A公司)相比,有較大的差異。圖1(b):在高溫(150℃)、長時(1000hr)施加柵極電壓(HTGB試驗),SiC MOSFET柵極閾值電壓隨時間變化(柵極電壓為-20V時)


     表1:SiC MOSFET施加柵極電壓測試后導通電阻、閾值電壓變化量  近年來,將高頻交流電壓施加到SiC MOSFET的柵極時,閾值電壓等電特性的經時偏移引起了人們的關注。這是一種在時間上逐漸發生特性漂移的現象,與電壓掃描中常見的滯回特性不同,這是由于存在于SiC/SiO2界面處的陷阱捕獲、釋放電荷。在漂移量大的情況下,在實用中有可能產生問題,所以有時候應用側對長期可靠性表示擔憂。圖2表示對SiC MOSFET的柵極施加高頻AC偏壓時閾值電壓的經時變化。三菱電機的SiC MOSFET,閾值電壓的漂移量小、穩定性好,與其他公司產品(A公司)相比,有較大的差異。

    表1:SiC MOSFET施加柵極電壓測試后導通電阻、閾值電壓變化量


    近年來,將高頻交流電壓施加到SiC MOSFET的柵極時,閾值電壓等電特性的經時偏移引起了人們的關注。這是一種在時間上逐漸發生特性漂移的現象,與電壓掃描中常見的滯回特性不同,這是由于存在于SiC/SiO2界面處的陷阱捕獲、釋放電荷。在漂移量大的情況下,在實用中有可能產生問題,所以有時候應用側對長期可靠性表示擔憂。圖2表示對SiC MOSFET的柵極施加高頻AC偏壓時閾值電壓的經時變化。三菱電機的SiC MOSFET,閾值電壓的漂移量小、穩定性好,與其他公司產品(A公司)相比,有較大的差異。



    第10講:SiC的加工工藝(2)柵極絕緣層圖2:SiC MOSFET柵極施加高頻AC應力時的閾值電壓變化


    在SiC MOSFET中,柵極施加偏置電壓時電氣特性的不穩定現象,有時也令人擔憂,至今已有各種報告,處于稍微混亂的狀況。MOSFET柵極相關特性的穩定性很大程度上依賴于柵極絕緣膜的制作方法、元件結構、驅動條件等。另外,導通電阻的降低和特性的穩定性不一定能并存。為了得到低電阻、特性穩定的SiC MOSFET,需要基于大量的經驗、數據,對工藝、結構進行最優化。三菱電機SiC MOSFET的柵極特性已在各種應用系統中進行了評估,顯示其穩定性非常好,是其主要優勢之一。

    關于三菱電機

    三菱電機創立于1921年,是全球知名的綜合性企業。截止2024年3月31日的財年,集團營收52579億日元(約合美元348億)。作為一家技術主導型企業,三菱電機擁有多項專利技術,并憑借強大的技術實力和良好的企業信譽在全球的電力設備、通信設備、工業自動化、電子元器件、家電等市場占據重要地位。尤其在電子元器件市場,三菱電機從事開發和生產半導體已有68年。其半導體產品更是在變頻家電、軌道牽引、工業與新能源、電動汽車、模擬/數字通訊以及有線/無線通訊等領域得到了廣泛的應用。


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