【導讀】本文介紹了一種用于高精度測量應(yīng)用的低功耗模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)解決方案。電氣工程中的一個典型應(yīng)用是通過傳感器記錄物理量并轉(zhuǎn)發(fā)給微控制器進行進一步處理。需要使用ADC將模擬傳感器輸出信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號。在高精度應(yīng)用中，使用SAR-ADC或Σ-Δ ADC。在低功耗應(yīng)用中，節(jié)省的每一毫瓦都算數(shù)。
本文介紹了一種用于高精度測量應(yīng)用的低功耗模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)解決方案。電氣工程中的一個典型應(yīng)用是通過傳感器記錄物理量并轉(zhuǎn)發(fā)給微控制器進行進一步處理。需要使用ADC將模擬傳感器輸出信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號。在高精度應(yīng)用中，使用SAR-ADC或Σ-Δ ADC。在低功耗應(yīng)用中，節(jié)省的每一毫瓦都算數(shù)。
使用Σ-Δ ADC進行信號轉(zhuǎn)換
與SAR-ADC相比，Σ-Δ ADC有一些優(yōu)勢。首先，它們通常具有更高的分辨率。此外，它們通常與可編程增益放大器(PGA)和通用輸入/輸出(GPIO)集成。因此，Σ-Δ ADC非常適合直流和低頻高精度信號調(diào)理和測量應(yīng)用。但是，由于固定過采樣速率較高，Σ-Δ ADC通常功耗更高，在電池供電的應(yīng)用中，會導致使用壽命縮短。
如果輸入電壓很小（即在毫伏范圍內(nèi)），則必須先放大輸入電壓，以便ADC更輕松地進行管理。需要使用PGA模擬前端(AFE)連接小于10 mV輸出的電壓。例如，為了將橋式電路的小電壓連接到具有2.5 V輸入范圍的Σ-Δ ADC，PGA必須具有250的增益。但是，由于噪聲電壓也被放大，這會導致ADC輸入端的噪聲變大。24位Σ-Δ ADC的有效分辨率因此被大幅降低到12位。不過，在某些情況下，無需使用ADC中的所有碼值，有時進一步放大也無法再改善動態(tài)范圍。Σ-Δ ADC的另一個缺點是，由于其內(nèi)部復雜性，通常成本較高。
將SAR-ADC與儀表放大器相結(jié)合的好處
一種同樣準確但更經(jīng)濟和更高效的替代方案是將SAR-ADC與儀表放大器相結(jié)合，如圖1所示。
圖1. 顯示簡化橋式測量電路與儀表放大器和SAR-ADC相結(jié)合的示意圖。
SAR-ADC的功能可分為兩個階段：數(shù)據(jù)采集階段和轉(zhuǎn)換階段。基本上，在數(shù)據(jù)采集階段，電流消耗很低。大多數(shù)SAR-ADC甚至會在轉(zhuǎn)換間隙斷電。轉(zhuǎn)換階段汲取的電流最多。功耗取決于轉(zhuǎn)換率，并與采樣速率成線性比例關(guān)系。對于針對慢速響應(yīng)測量（即測量的量變化緩慢的測量，例如溫度測量）的節(jié)能應(yīng)用，應(yīng)使用低轉(zhuǎn)換率來保持電流汲取，從而降低損耗。圖2顯示了 AD4003 在不同采樣速率下的功率損耗。在1 kSPS時，功率損耗約為10 μW；在1 MSPS時，已增加至10 mW。
圖2. AD4003中的功率損耗作為采樣速率的一個函數(shù)。
與這種慢速測量相比，Σ-Δ ADC具有過采樣的優(yōu)勢，同時使用比輸出速率高得多的內(nèi)部振蕩器頻率。這使設(shè)計者能夠?qū)⒉蓸觾?yōu)化為速度較快、噪聲性能較差；或者速度較低，而濾波、噪聲整形（將噪聲移至感興趣測量區(qū)域之外的頻帶）及噪聲性能較好。不過，這意味著與SAR-ADC相比，Σ-Δ ADC的功耗要高得多。許多Σ-Δ ADC的有效分辨率和無噪聲分辨率均在其數(shù)據(jù)手冊中有所提及，因此很容易比較權(quán)衡。
結(jié)論
Σ-Δ ADC與PGA的組合以及SAR-ADC與儀表放大器的組合都適用于高精度測量應(yīng)用中的信號轉(zhuǎn)換。這兩種解決方案的準確性差不多。不過，對于節(jié)能或電池供電的測量應(yīng)用，SAR-ADC與儀表放大器的組合更好，與由PGA和Σ-Δ ADC組成的解決方案相比，其功耗和成本更低。此外，具有高增益的PGA通常會限制性能，因為噪聲也會被放大。本文僅介紹了一種適用于SAR-ADC的可行解決方案。還有更多的集成解決方案，例如 AD7124-4/AD7124-8 等集成PGA的Σ-? ADC。
（來源：亞德諾半導體）
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