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    第12講:三菱電機高壓SiC芯片技術

    發布時間:2024-12-22 責任編輯:lina

    【導讀】三菱電機開發了高耐壓SiC MOSFET,并將其產品化,率先將其應用于驅動鐵路車輛的變流器中,是一家在市場上擁有良好業績記錄的SiC器件制造商。本篇帶你了解三菱電機高壓SiC芯片技術。


    三菱電機開發了高耐壓SiC MOSFET,并將其產品化,率先將其應用于驅動鐵路車輛的變流器中,是一家在市場上擁有良好業績記錄的SiC器件制造商。本篇帶你了解三菱電機高壓SiC芯片技術。

    通過使用SiC,可實現額定電壓3.3kV以上的高耐壓MOSFET。由于MOSFET是單極性器件,少數載流子不會積聚,所以能夠實現極低的開關損耗。一般來說,由于高耐壓模塊所處理的電流大,需要將功率損耗引起的發熱控制在容許值以下,因此將載波頻率(開關頻率)設置得較低。但通過使用SiC MOSFET,系統能夠使用高載波頻率,可為系統提供諸如高性能、小型化等前所未有的優點。

    高耐壓SiC MOSFET的漂移層電阻和JFET區域電阻占導通電阻的比例較大。由于漂移層的電阻是由擊穿電壓和物理特性值決定的,很難通過設計來降低漂移層的電阻。因此,通過優化JFET區域設計來降低電阻非常重要。在JFET區域的設計中,在降低電阻的同時,為了確保可靠性,還需要抑制最大電場強度。如第11講所述,通過使用在第二代SiC MOSFET開發中獲得的JFET摻雜技術,實現了兼具低電阻和高可靠性的3.3kV SiC MOSFET。此外,高耐壓SiC MOSFET還需要考慮的性能是短路耐受能力。當施加高電壓時,必須進一步減小短路電流以保證器件免受短路故障的影響。SiC MOSFET短路電流的抑制伴隨著導通電阻的增加,因此設計時必須考慮這些特性的平衡。

    圖1表示3.3kV SiC MOSFET模塊的正向特性。圖中還顯示了與SiC MOSFET具有相同有效面積的Si IGBT的正向特性。在低電流區域,與存在內建電勢的Si IGBT相比,SiC MOSFET的通態電壓大幅降低。這是SiC MOSFET的一大優點。


    第12講:三菱電機高壓SiC芯片技術

    圖1:3.3kV SiC MOSFET模塊的正向特性


    作為下一代的高耐壓SiC MOSFET,三菱電機開發了第三代SBD嵌入式SiC MOSFET,并于2024年將第一個配備該芯片的SiC模塊商業化。如第5講所述,SiC晶體中存在少量晶體缺陷,這些缺陷在通過雙極電流時使器件特性惡化。在芯片并聯數較多的高耐壓大電流模塊中,包含該缺陷的概率變高,因此在正常工作時,為了避免雙極電流流過,開發了將肖特基二極管嵌入在MOS元胞內的SiC MOSFET。

    圖2顯示了SBD嵌入式SiC MOSFET與常規MOSFET的橫截面結構圖。在SBD嵌入式SiC MOSFET中,在與源極接觸的部分形成肖特基接觸。當向MOSFET施加反向電壓時,肖特基電流(單極電流)通過MOSFET,以抑制體二極管導通引起的雙極電流。


    第12講:三菱電機高壓SiC芯片技術圖2(a):常規3.3kV SiC MOSFET的MOS元胞截面圖

    第12講:三菱電機高壓SiC芯片技術圖2(b):3.3kV SBD嵌入式SiC MOSFET的MOS元胞截面圖


    圖3顯示了SBD嵌入式SiC MOSFET的正向特性。漏極電流和漏極電壓的正向特性與常規SiC MOSFET相同。圖4顯示了SBD嵌入式SiC MOSFET的反向特性。在關閉柵極的情況下,向MOSFET施加反向電壓時,在常規結構中,在超過約2.5V時,MOSFET的體二極管會流過雙極性電流。另一方面,在SBD嵌入式SiC MOSFET中,從約1V開始,流過單極性的肖特基電流,沒有來自體二極管的電流流過。因此,不會因雙極導通而帶來的劣化。


    第12講:三菱電機高壓SiC芯片技術圖3:SBD嵌入式SiC MOSFET的正向特性

    第12講:三菱電機高壓SiC芯片技術

    圖4:SBD嵌入式SiC MOSFET的反向特性


    SBD嵌入式SiC MOSFET的挑戰之一是其低浪涌電流能力。對此,三菱電機開發了一種獨特的MOS元胞結構,該結構僅在浪涌電流流過時以雙極方式工作。通過將該MOS元胞集成到SBD嵌入式SiC MOSFET中,成功地大幅提高了浪涌電流能力。


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