下面我舉兩個(gè)異常“問(wèn)題”的實(shí)例來(lái)解釋以上陳述。在對(duì)不是由被測(cè)設(shè)備引起的輻射發(fā)射進(jìn)行故障診斷時(shí)，我發(fā)現(xiàn)了兩個(gè)異常問(wèn)題。一個(gè)問(wèn)題是在我的實(shí)驗(yàn)室中發(fā)現(xiàn)的，另一個(gè)問(wèn)題則出現(xiàn)在離我大學(xué)很近的一家小公司中。

 

一天，在實(shí)驗(yàn)室我試圖解決某臺(tái)設(shè)備的輻射發(fā)射問(wèn)題。通常，我會(huì)從帶屏蔽室的實(shí)驗(yàn)室中獲取某些發(fā)射結(jié)果，但只能作為參考數(shù)據(jù)，因?yàn)槲也](méi)有暗室。然后，我試圖找到實(shí)驗(yàn)室中有問(wèn)題的頻率，確定底噪，然后在被測(cè)設(shè)備工作時(shí)對(duì)其進(jìn)行調(diào)試。

 

在圖1(左)中，您可以看到設(shè)備被測(cè)量前的底噪情況。位于88～108MHz的FM調(diào)頻廣播發(fā)射機(jī)的發(fā)射可以明確確定。該測(cè)量結(jié)果在屏幕中保存為參考值。

 

圖1：左圖顯示底噪，右圖顯示輻射發(fā)射（紅色）和底噪（藍(lán)色），但右圖中在135 MHz - 235 MHz范圍內(nèi)底噪較高。原因是什么呢?

 

然后，我們測(cè)量了被測(cè)設(shè)備的輻射發(fā)射，如圖1右圖所示。我們發(fā)現(xiàn)了數(shù)字時(shí)鐘的輻射發(fā)射，同時(shí)發(fā)現(xiàn)了在135MHz-235MHz頻率范圍內(nèi)還有其它寬帶發(fā)射。我們?cè)噲D在被測(cè)設(shè)備中找到這些輻射發(fā)射，但始終未能成功找到。請(qǐng)注意從最初圖1(左)中顯示的藍(lán)色跡線(xiàn)看，并沒(méi)有看到如圖1右 圖中所顯示的較高的底噪。

 

更復(fù)雜的是，我們發(fā)現(xiàn)該處并不是一直有輻射發(fā)射，如圖2所示。圖2較高的底噪掩蓋了一些來(lái)自被測(cè)設(shè)備的輻射發(fā)射。

 

圖2：較高的底噪掩蓋了一些來(lái)自被測(cè)設(shè)備的輻射發(fā)射。

 

我們?cè)噲D找到被測(cè)設(shè)備印刷電路板(PCB)附近的“間歇性”輻射發(fā)射， 卻始終未果。到底是哪里出錯(cuò)了呢？

 

后來(lái)，我注意到焊臺(tái)(如圖3所示)有時(shí)會(huì)因焊接需要進(jìn)行開(kāi)啟或關(guān)閉。

 

圖3：實(shí)驗(yàn)室的儀器包括焊臺(tái)等。

 

圖4顯示了兩種情況下測(cè)得的底噪。您可以看到兩者之間的差別。

 

圖4：開(kāi)啟及關(guān)閉焊臺(tái)時(shí)的底噪（被測(cè)設(shè)備關(guān)閉）

 

我們發(fā)現(xiàn)原來(lái)是這臺(tái)“無(wú)辜”的焊臺(tái)惹的禍，弄得我們暈頭轉(zhuǎn)向，曾一度妨礙我們作出問(wèn)題診斷?？磥?lái)電磁干擾真的是很強(qiáng)大，不可小覷！

 

第二個(gè)例子與第一個(gè)類(lèi)似。當(dāng)時(shí)我們正在離實(shí)驗(yàn)室不遠(yuǎn)的一家公司用電力電子轉(zhuǎn)換器測(cè)試一個(gè)系統(tǒng)。

 

當(dāng)我們?cè)?m處測(cè)量輻射發(fā)射時(shí)，我們注意到在低頻區(qū)域發(fā)現(xiàn)了大量輻射發(fā)射，如圖5所示。

 

圖5顯示被測(cè)設(shè)備的底噪(黃色)和輻射發(fā)射(紫色)。

 

圖5：顯示被測(cè)設(shè)備的底噪（黃色）和輻射發(fā)射（紫色）。

 

利用近場(chǎng)探頭我們發(fā)現(xiàn)輻射信號(hào)并非來(lái)自被測(cè)設(shè)備。似乎噪聲并非是底噪(屏幕上終止的黃色跡線(xiàn))。是哪里出錯(cuò)了嗎?

 

憑著對(duì)焊臺(tái)的了解和自身經(jīng)驗(yàn)，我開(kāi)始環(huán)顧四周，試圖尋找影響信號(hào)的因素。突然，我發(fā)現(xiàn)與一組近場(chǎng)探頭搭配使用的便攜式頻譜分析儀正在充電，如圖6所示。

 

圖6：便攜式頻譜儀通過(guò)充電器連接到AC電源

 

我把充電器拔下來(lái)。輻射發(fā)射立即從儀器屏幕上消失(如圖7所示)。

 

圖7：拔下射頻儀的充電器后背景發(fā)射降低

 

經(jīng)驗(yàn)證明，在實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行輻射或傳導(dǎo)發(fā)射的故障診斷時(shí)必須小心謹(jǐn)慎、思慮周全。在故障診斷過(guò)程中注意查看工具；查看并確保在您所測(cè)的頻段內(nèi)沒(méi)有受到充電器、焊臺(tái)、燈具等設(shè)備輻射發(fā)射的影響；不斷檢查底噪；一定要仔細(xì)查看，慎之又慎。

 

請(qǐng)記住，這類(lèi)問(wèn)題也會(huì)出現(xiàn)在屏蔽室中。在調(diào)試發(fā)射問(wèn)題時(shí)，請(qǐng)查看室內(nèi)是否有焊臺(tái)或充電器等設(shè)備正在運(yùn)行。

 

您是否有類(lèi)似的經(jīng)歷？歡迎分享您的故事。

 

文章來(lái)源于電子技術(shù)設(shè)計(jì)。



推薦閱讀：