【導讀】工程師都知道，電子器件的電源測量通常是指開關電源的測量，當然也包括線性電源。本文講解PWM開關電源，而且僅僅是作為測試經驗的總結，為大家簡述一些容易引起系統失效的因素。因此，在閱讀本文之前，需要對開關電源有一定的了解。
開關電源是一種高頻電能轉換裝置，能將電壓透過不同形式的架構轉換為用戶端所需求的電壓或電流。開關電源的拓撲指開關電源電路的構成形式。一般是根據輸出地線與輸入地線有無電氣隔離，分為隔離及非隔離變換器。
非隔離即輸入端與輸出端相通，沒有隔離措施，常見的DC/DC變換器大多是這種類型。所謂隔離是指輸入端與輸出端在電路上不是直接聯通的，使用隔離變壓器通過電磁變換方式進行能量傳遞，輸入端和輸出端之間是完全電氣隔離的。
對于開關變換器來說，只有三種基本拓撲形式，即：
Buck（降壓）
Boost（升壓）
Buck-Boost（升降壓）
三種基本拓撲形式，是電感的連接方式決定。若電感放置于輸出端，則為Buck拓撲；電感放置于輸入端，則是Boost拓撲。當電感連接到地時，就是Buck-Boost拓撲。
容易引發系統失效的關鍵參數測試
以下的測試項目除了是指在靜態負載的情況下測試的結果，只有噪聲（noise）測試需要用到動態負載。
1.Phase點的jitter
對于典型的PWM開關電源，如果phase點jitter太大，通常系統會不穩定（和后面提到的相位裕量相關），對于200~500K的PWM開關電源，典型的jitter值應該在1ns以下。
2. Phase點的塌陷
有時候工程師測量到下面的波形，這是典型的電感飽和的現象。對于經驗不夠豐富的工程師，往往會忽略掉。電感飽和會讓電感值急劇下降，類似于短路了，這樣會造成電流的急劇增加，MOS管往往會因為溫度的急劇增加而燒毀。這時需要更換飽和電流更大的電感。
3.Shoot through測試
測試的目的是看上MOS管導通時，有沒有同時把下管打開，從而導致電源直接導通到地而引起短路。如圖三所示藍色曲線（Vgs_Lmos）就是下管在上管導通的同時，被帶了起來，如果藍色曲線的被帶起來的尖峰超過了MOS管的Vth要求，同時持續時間（Duration）也超過了datasheet要求，從而就會有同時導通的風險。當然，這是大家最常見到的情況。
下面這種情況有非常多的人會忽視，甚至是一些比較有經驗的電源測試工程師。下面組圖四是下管打開，上管關閉時候的波形（圖4-1是示意圖，圖4-2示實際測試圖）。雖然沒有被同時帶起的情況，但是請注意上下管有交叉的現象，而且交叉點的電平遠高于MOS管規定的Vth值，這是個嚴重的shoot through現象。最直接的后果就是MOS管燒毀！
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4.相位裕量和帶寬（phase margin and bandwidth）
相位裕量和帶寬是很多公司都沒有測試的項目（尤其是規模較小的公司受限于儀器），但是這卻是個非常重要的測試項目。電源系統是否穩定，是否能長時間（3年或以上）有效工作，相位裕量和帶寬可以在很大程度上說起了決定性的作用。很多公司完全依賴于電源芯片廠家給的參考設計方案里的推薦值，但是跟你的設計往往有不小的差異，這樣會有很大的潛在風險。
如果系統是一個不穩定的系統，反映在一些電源測試項目里面，會看到以下幾個主要問題。
電源的Noise測試通過，但是電源依然不穩定。表現為功能測試fail.常常有工程師在debug時說我的電源noise已經很小了，加了很多電容了，為啥還是跑不動呢？其實是他的閉環系統本來就不穩定。
Phase點jitter過大。這是比較典型的不穩定現象。
瞬態響應太大。最笨的辦法就是加很多電容，去滿足瞬態響應的要求。對于低成本產品，這可是要錢的啊。
如果你沒有用正確的方法測試出系統的環路增益的波特圖，那么你如何下手去調試這些項目讓他通過測試呢？只有來來回回不停作實驗。然后來來回回跑功能測試。Oh，my god，浩大的工作量。而且，對于一些低成本的產品，往往用到了鋁電解電容，MLCC電容等低成本方案（電感，電阻值基本沒有變化）。這些電容的容值會隨著時間變化而減少。如MLCC，系統運行在正常溫度兩年~三年，容值會變到原來的一半。而這一半電容的變化，會對系統的穩定造成很大的影響，這也是為什么很多低價的產品質量不可靠的一個重要原因。那是不是說價格越高，用越多的電容就越好呢，當然不是。這就是為啥要測試相位裕量的原因。你需要調試一組合理的值，能夠同時覆蓋全電容以及半電容的要求。這樣同樣能做到低價格高品質。
根據奈奎斯特定理對系統穩定性要求，規范要求一個閉環系統的相位裕量最少為60度，45~60度可以考慮為最低限額要求。對于帶寬，200~500K的開關電源的要求在10%~30%的開關頻率。從開關電源的穩定性看帶寬越低，電源越容易穩定。從開關電源的動態指標看，帶寬越高電源的動態性能越好。
下圖五為典型的波特圖：
另外一點非常重要的是，除了PWM開關電源，有很多線性電源（LDO），其補償網絡在芯片外部的，也要做類似的環路增益的波特圖測試，從而確保其穩定性。LDO的測試，是絕大多數廠家容易忽略掉的。比如如下圖六所示這種電路，很多人會直接測量噪聲完事。
我們有可能會看到的相位裕量不能達到要求。如下圖七，只有30度左右。這個時候，只有調試不同的參數，才能得到比較好的結果。從而滿足系統穩定性的要求。
5.電源紋波和噪聲
電源紋波和噪聲，看起來是電源測試里面最簡單的項目。但是也有可能對你的測試結果和功能有比較大的影響。
首先是紋波，我們測試的時候，只是看是不是符合規范要求，比如30mV等等。有些時候，紋波和系統的PLL是有關系的。如果你的PLL jitter不過，可以考慮進一步減小ripple.
噪聲，有人會問，為啥我的系統噪聲和他的系統噪聲基本是一個范圍，但是我的系統會跑fail呢？首先我們要排除前面講的系統穩定性原因，然后，親，你有沒有用示波器做過FFT，看看同樣噪聲在頻域上的區別呢？
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